摘要：Penetrating Particle Analyzer (PAN)是一个多功能小型的带电粒子探测器，设计用于深空带电粒子探测。它可以精确测量能量从30 MeV/n 到10 GeV/n的带电粒子，和传统深空辐射探测器相比能域范围高了1-2个数量级，可以填补目前对于GeV星系宇宙线测量的空缺。PAN采用了磁谱仪技术，探测器运用了当下前沿的探测器技术。它由两块永磁体，基于SiPM读取塑闪的TOF系统，硅像素探测器和硅微条探测器构成，总质量小于10公斤，低能耗。在过去几年里，我们对探测器进行了大量的电子/质子/重离子等束流测试，对探测器性能进行研究和探测器进行微调。目前探测器的位置分辨率可以到达4个微米，可以区分至少Z=20（钙）的粒子，对于1GeV电子分辨率在12%左右。该报告将详细介绍PAN探测器的技术细节，以此展开讨论未来国内磁谱仪探测器的开发和在南极以及深空如木星辐射带的应用前景。

报告人简介：
2011年本科毕业于上海交通大学，2017年博士毕业于上海交通大学，博士期间参与四川锦屏PandaX-I/II暗物质探测实验，获得2018年晨光杯优秀论文奖一等奖。2018年于李政道研究所从事博士后工作，参与PandaX四吨实验，获评“赵忠尧博士后”。2020年加入日内瓦大学从事博士后工作，期间主要从事PAN深空带电粒子探测器的研发项目。